基于金属与半导体间卡西米尔力的导电性实验检验
量子物理
2009-11-13 v1 材料科学
摘要
利用原子力显微镜对大尺寸金属化球与半导体板之间的卡西米尔力进行了实验研究。改进的校准与测量流程降低了各类不确定度的贡献。采用严格的统计流程在95%置信度下分析随机、系统及总实验误差。针对具有不同导电性质的半导体板，并考虑文献中讨论的所有理论不确定度，计算了理论卡西米尔力。在95%与70%置信度下分别进行了实验与理论的比较。结果表明，针对实验中使用的半导体板所计算的理论结果与数据一致。同时，描述介质板的理论在70%置信度下被实验排除。由此证明，卡西米尔力对半导体的导电性质具有敏感性。
引用
@article{arxiv.quant-ph/0603111,
title = {Experimental test for the conductivity properties from the Casimir force between metal and semiconductor},
author = {F. Chen and U. Mohideen and G. L. Klimchitskaya and V. M. Mostepanenko},
journal= {arXiv preprint arXiv:quant-ph/0603111},
year = {2009}
}
备注
25 pages, 8 figures, 4 tables