用于 PCB EMC 辐射测量的磁近场微带电子探针实验研究
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2025-09-30 v1 信号处理
摘要
本文对印刷电路板（PCB）辐射发射的磁近场（NF）扫描进行了实验研究。介绍了电磁（EM）近场扫描仪的设计与安装。描述了微波频率范围内磁近场发射的测试平台。讨论了微带磁近场探针的方法论。探针校准过程遵循 IEC 61967-1 近场扫描标准进行。在测试计划中，使用无源微带电路方形环路探针和被测器件（DUT）PCB 辐射对近场扫描仪的功能进行了测试，其中 DUT 位于接地平面上方 1-mm 处。基于 I 型 50- 传输线（TL）的标准测试，通过在 0.1-GHz 至 3-GHz 的超宽带频率范围内对 HFSS 仿真与实验结果进行比较，验证了辐射磁场的校准过程。随后，对基于非标准传输线的 DUT 进行了实验。相应地，讨论了在 2 GHz 和 3 GHz 两个不同测试频率下扫描磁近场的分布图。该近场扫描仪目前正在开发中，旨在针对专用于 6G 无线通信的 PCB 进行 EMC 辐射发射测试。
关键词
引用
@article{arxiv.2509.24944,
title = {Experimental Study of Magnetic Near-Field Microstrip Electronic Probe for PCB EMC Emission Measurement},
author = {Hongchuan Jia and Fayu Wan and Vladimir Mordachev and Jérôme Rossignol and Glauco Fontagalland and Nour Murad and Blaise Ravelo},
journal= {arXiv preprint arXiv:2509.24944},
year = {2025}
}