电子态驱动电流诱导绝缘体-金属相变的证据
强关联电子
2025-04-28 v1
摘要
按需电流驱动的绝缘体-金属相变（IMT）是下一代高效且可扩展微电子器件的关键。IMT 是 various 量子材料中观察到的关键现象，由自旋、晶格、电荷和轨道自由度（DOF）的复杂相互作用所支配。尽管已有大量工作，但电流驱动的 IMT 的底层机制仍不为人知，主要是由于难以同时获取所有电子 DOF 的 bulk 指纹。本文我们对 CaRuO，这是一种典型的强相关材料，进行原位共挥非弹性 X 射线散射（RIXS），以在电流驱动的 IMT 期间追踪电子 DOF 在 RIXS 光谱中的演化。进入导电态后，我们观察到 RIXS 强度能量选择性地抑制，与电流成正比。通过互补的 RIXS 交叉截面计算，我们证明非平衡导电态源于具有持续 Mott 间隙的相关电子态的形成。
引用
@article{arxiv.2504.17871,
title = {Evidence of electronic states driving current-induced insulator-to-metal transition},
author = {V. K. Bhartiya and R. Hartmann and F. Forte and F. Gabriele and T. Kim and G. Cuono and C. Autieri and S. Fan and K. Kisslinger and F. Camino and M. Lettieri and R. Fittipaldi and C. Mazzoli and D. N. Basov and J. Pelliciari and A. Di Bernardo and A. Vecchione and M. Cuoco and V. Bisogni},
journal= {arXiv preprint arXiv:2504.17871},
year = {2025}
}
备注
21 pages, 4 figures