EVHA：用于硬件测试与保障的可解释视觉系统——综述
密码学与安全
2022-07-21 v1 人工智能
计算机视觉与模式识别
机器学习
系统与控制
系统与控制
摘要
由于各行业对电子芯片的需求不断增长，半导体公司被迫将其制造流程离岸外包。这一不情愿之举使得所制造芯片的安全性和可信性令人担忧，并导致了硬件攻击的产生。在这种情况下，半导体供应链中的不同实体可能恶意行事，并对从器件到系统的设计计算层发起攻击。我们的攻击是一种硬件木马，其在不受信任的代工厂中于掩模生成/制造期间被插入。该木马通过增加、删除或更改设计单元，在制造出的芯片上留下痕迹。为解决此问题，我们在本工作中提出用于硬件测试与保障的可解释视觉系统（EVHA），该系统能够以低成本、准确且快速的方式检测设计中最细微的可能改动。该系统的输入是从受检集成电路（IC）获取的扫描电子显微镜（SEM）图像。系统输出是通过在单元级别对设计单元的增加、删除或更改，判定IC是否存在任何缺陷和/或硬件木马。本文概述了我们防御系统的设计、开发、实现与分析。
引用
@article{arxiv.2207.09627,
title = {EVHA: Explainable Vision System for Hardware Testing and Assurance -- An Overview},
author = {Md Mahfuz Al Hasan and Mohammad Tahsin Mostafiz and Thomas An Le and Jake Julia and Nidish Vashistha and Shayan Taheri and Navid Asadizanjani},
journal= {arXiv preprint arXiv:2207.09627},
year = {2022}
}
备注
Please contact Dr. Shayan Taheri for any questions and/or comments regarding the paper arXiv submission at: "www.shayan-taheri.com". The Paper Initial Submission: The ACM Journal on Emerging Technologies in Computing Systems (JETC)