评估电子-质子散射数据在确定质子电荷半径方面的强度

重新分析了精确测量的电子-质子弹性散射截面[Phys. Rev. Lett. 105, 242002 (2010)]，以评估其用于确定质子均方根电荷半径($R_{\rm E}$)的强度。最低 $Q^2$ 下超过一半的截面使用两种单参数形状因子模型拟合，第一种基于偶极参数化，第二种基于共形映射变量的线性拟合。这些低-$Q^2$ 拟合将形状因子斜率外推到 $Q^2$=0，并确定 $R_{\rm E}$ 值分别约为 0.84 和 0.89~fm。跨越所有 $Q^2$ 的拟合中，在较大 $Q^2$ 处用三次样条替换单常数，导致类似的 $R_{\rm E}$ 结果。我们得出结论，散射数据与 $R_{\rm E}$ 范围至少从 0.84 到 0.89~fm 一致，因此无法解决使用μ子与电子氢原子光谱确定 $R_{\rm E}$ 的差异。