低成本热激光刺激用于数据提取与密钥读取的评估
密码学与安全
2020-09-10 v1
摘要
近期使用热激光刺激（TLS）的攻击表明，有可能从最先进现场可编程门阵列（FPGA）的电池备份存储器中提取密码学密钥。然而，通常用于这些攻击的专业失效分析显微镜造价约为 50 万至 100 万美元。在这项工作中，我们评估了使用一台更便宜的商用激光故障注入站，并改装合适的放大器与光源以实现 TLS。我们证明了 TLS 攻击可在约 10 万美元的硬件成本下实现。这使攻击者所需资源减少了至少五倍。我们展示了两次实际攻击：从低功耗微控制器的 SRAM 存储器中提取数据，以及从 20 纳米工艺 FPGA 器件中提取解密密钥。随后，与传统的失效分析设备方法相比，讨论了我们的低成本方法的优势与弱点。总体而言，本工作表明 TLS 背面攻击的可用成本远低于此前预期。
引用
@article{arxiv.2006.06290,
title = {Evaluation of Low-Cost Thermal Laser Stimulation for Data Extraction and Key Readout},
author = {Thilo Krachenfels and Heiko Lohrke and Jean-Pierre Seifert and Enrico Dietz and Sven Frohmann and Heinz-Wilhelm Hübers},
journal= {arXiv preprint arXiv:2006.06290},
year = {2020}
}