非理想腔中的纠缠产生与最佳不透明度

我们解析计算了混沌量子点中电子纠缠产生的并发度 (concurrence) $\bm{\mathcal{C}}$ 分布和平方范数 $\bm{\mathcal{N}}$ 分布。该量子点通过一个理想引线和一个部分透明的引线连接到外部世界，后者由不透明度 $\gamma$ 表征。平均并发度随 $\gamma$ 增加而增加，而纠缠态的平均平方范数则减小，使其被探测到的可能性降低。当需要最小可探测范数 $\bm{\mathcal{N}}_0$ 时，平均并发度在不透明度最优值 $\gamma^\star(\bm{\mathcal{N}}_0)$ 处达到最大，该值被显式计算为 $\bm{\mathcal{N}}_0$ 的函数。如果 $\bm{\mathcal{N}}_0$ 大于临界值 $\bm{\mathcal{N}}_0^\star\simeq 0.3693\dots$，则完全理想情况下的平均纠缠产生最大，这是一个有趣的分岔效应的直接结果。