STM 隧道结中等离激元激发过程的能量转移通道
光学
2018-11-21 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
我们研究由非弹性隧穿电子激发、局域于扫描隧道显微镜针尖与金属衬底之间的间隙等离激元的衰变。隧穿电子激发的总能量分为电阻耗散与电磁辐射两类，二者共同可进一步分离为四种不同通道，包括针尖上的 SPP 通道、衬底上的 SPP 通道、空气模式通道和直接淬灭通道。我们发现大部分激发能量流向金属 STM 针尖上的表面等离极化激元，而非衬底上的。针尖顶点的直接淬灭也占据可观部分，尤其在高频区域。
引用
@article{arxiv.1710.02450,
title = {Energy transfer channels of the plasmon excitation process in STM tunnel junctions},
author = {Yaoqin Lu and Yuntian Chen and Jing Xu and Tao Wang and Jing-Tao Lü},
journal= {arXiv preprint arXiv:1710.02450},
year = {2018}
}
备注
3 figures