烧绿石铱酸盐薄膜中涌现的拓扑现象
介观与纳米尺度物理
2014-07-29 v1 材料科学
强关联电子
摘要
决定系统拓扑不变量的两个基本要素是系统的维度和对称性。由于薄膜和人工超结构生长技术的最新发展，可以在二维 (2D) 和三维 (3D) 之间平滑地控制系统的维度。在这项工作中，我们揭示了关联拓扑材料中涌现拓扑现象的维度交叉。特别是，通过聚焦于沿 [111] 方向生长的烧绿石铱酸盐反铁磁体薄膜，我们证明了即使三维块体材料中不存在霍尔效应，它也能表现出与薄膜厚度成正比的巨大反常霍尔电导。此外，我们发现了一种新拓扑相的出现，其非平凡拓扑性质隐藏在块体绝缘体中，但仅在薄膜中显现。这表明拓扑材料的薄膜是探索未知新颖拓扑现象的新平台。
引用
@article{arxiv.1403.2207,
title = {Emergent topological phenomena in thin films of pyrochlore iridates},
author = {Bohm-Jung Yang and Naoto Nagaosa},
journal= {arXiv preprint arXiv:1403.2207},
year = {2014}
}
备注
34 pages, 9 figures, 1 table