金属晶须的静电理论
介观与纳米尺度物理
2014-01-31 v1
摘要
针状晶须生长于各种金属表面，常跨越封装引脚导致电流泄漏或短路，从而引发电子元件的可靠性问题。经过数十年的研究，金属晶须的本质仍是个谜。在此，我们将金属晶须的存在归因于针状金属细丝在电场中发生静电极化所获得的能量增益。该电场由表面缺陷（如污染物、氧化态、晶界等）诱导产生。所提出的理论提供了晶须成核与生长速率的闭式表达式及定量估算，解释了晶须参数的范围及外部偏置的影响，并预测了其长度的统计分布。
引用
@article{arxiv.1401.7689,
title = {Electrostatic theory of metal whiskers},
author = {Victor Karpov},
journal= {arXiv preprint arXiv:1401.7689},
year = {2014}
}
备注
11 pages, 9 figures. arXiv admin note: text overlap with arXiv:1309.3822