自组装量子点中的电调制反射光谱：透镜对称性
材料科学
2016-08-16 v1
摘要
研究了半导体自组装量子点的调制电调制反射光谱 。该结构被建模为具有透镜形状几何和圆形截面的量子点。考虑了基于外电场（）和透镜几何形状的电调制反射光谱与光学响应的微观描述。研究了 光谱中所有实验参数对电场和透镜对称性的依赖关系。利用有效质量形式体系，计算了能量和电子态作为 和量子点参数的函数。此外，在强受限区域框架下，给出了激子结合能的一般表达式。推导了光波矢垂直和平行于 情况下的光学选择定则。对 InAs 和 CdSe 纳米结构的 Seraphin 系数和电调制反射光谱进行了详细计算。计算结果表明，当考虑尺寸的统计分布时，与最近在 CdSe/ZnSe 上进行的测量结果吻合良好，解释了电调制反射光谱中观察到的主要特征。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0507225,
title = {Electroreflectance spectroscopy in self-assembled quantum dots: lens symmetry},
author = {A. H. Rodríguez and C. Trallero-Giner and Martín Muñoz and María C. Tamargo},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0507225},
year = {2016}
}