热蒸发CdTe薄膜的电子结构、结构与光学性质
材料科学
2009-11-11 v1
摘要
通过热蒸发在玻璃衬底上沉积了CdTe薄膜。XRD测量发现薄膜为闪锌矿型结构。测量了透射率、吸收系数、消光系数和折射率。在LDA和LDA+U近似下，通过从头计算研究了CdTe的电子结构、能带参数和光学光谱。结果表明，LDA低估了带隙、Cd-4d态能级、s-d耦合和能带色散，但能正确计算自旋轨道耦合。LDA+U并未显著增大带隙值，但通过将Cd-4d能级移至实验确定的位置，并将LDA导出的单一s峰分裂为两个峰（源于s和d态的混合），修正了s-d耦合。研究表明，s-d耦合在吸收和反射率常数中起重要作用。计算的光学光谱与实验数据相当吻合。与波矢无关的剪刀算符被发现是刚性移动LDA低估的CdTe带隙的良好一级近似。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0608141,
title = {Electronic structure, structural and optical properties of thermally evaporated CdTe thin films},
author = {S. Lalitha and S. Zh. Karazhanov and P. Ravindran and S. Senthilarasu and R. Sathyamoorthy and J. Janabergenov},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0608141},
year = {2009}
}