具有角边结构的石墨烯中的电子态与局域态密度
介观与纳米尺度物理
2015-05-30 v1
摘要
我们研究了具有角边的半无限石墨烯的电子态，重点关注零能边缘局域态的稳定性。考察了60°、90°、120°和150°角边。60°和120°角边由两条锯齿形边缘构成，而90°和150°角边由一条锯齿形边缘和一条扶手椅形边缘构成。我们基于最近邻紧束缚模型，利用Haydock递归方法数值计算了局域态密度（LDOS）。结果表明，除120°情况外，在每个角边结构的锯齿形边缘上都出现了边缘局域态。为了深入理解这一行为，我们在有效质量方程的框架内分析了零能电子态。分析结果与LDOS的行为一致。
引用
@article{arxiv.1109.6142,
title = {Electronic States and Local Density of States in Graphene with a Corner Edge Structure},
author = {Yuji Shimomura and Yositake Takane and Katsunori Wakabayashi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1109.6142},
year = {2015}
}
备注
21 pages, 14 figures