分形导体中的电子散粒噪声
介观与纳米尺度物理
2008-05-01 v1
摘要
通过求解 Sierpinski 晶格和平面随机电阻网络中的主方程，我们确定了分形导体中由弹性散射引起的散粒噪声功率 P 随尺寸 L 的标度关系。我们发现幂律标度 P ~ L^(d_f-2-alpha)，其指数取决于分形维数 d_f 和反常扩散指数 alpha。这与时间平均电流 I 的标度相同，意味着法诺因子 F=P/2eI 与尺度无关。对于反常扩散，我们得到 F=1/3 的值，这与正常扩散的情况相同，即使不存在正常扩散方程成立的最小长度尺度。在随机电阻网络中穿越渗流阈值时 F 保持固定在 1/3 这一事实，或许可以解释最近在石墨烯薄片中测量到的与掺杂无关的法诺因子。
引用
@article{arxiv.0803.2709,
title = {Electronic shot noise in fractal conductors},
author = {C. W. Groth and J. Tworzydlo and C. W. J. Beenakker},
journal= {arXiv preprint arXiv:0803.2709},
year = {2008}
}
备注
6 pages, 3 figures