单个斯格明子的电子噪声
介观与纳米尺度物理
2023-08-21 v2 材料科学
摘要
为实现基于斯格明子器件的实用化，必须在能效与热稳定性之间取得平衡，同时确保针对噪声的可靠电学探测。因此，理解斯格明子如何与材料无序及外部扰动相互作用至关重要。本文研究了磁薄膜中受热涨落与自旋电流影响的单个斯格明子的电子噪声。我们在强钉扎区检测到具有 1/f 特征的由热诱导的噪声，而在中等钉扎区检测到随机电报噪声。在弱钉扎区，则同时检测到热主导与电流诱导的电报状信号。我们的结果提供了单个斯格明子全面的电子噪声图像，展示了噪声涨落作为表征斯格明子钉扎条件的有价值工具的潜力。这些见解也有助于开发低噪声、可靠的基于斯格明子的器件。
引用
@article{arxiv.2307.08194,
title = {Electronic Noise of a Single Skyrmion},
author = {Kang Wang and Yiou Zhang and Vineetha Bheemarasetty and See-Chen Ying and Gang Xiao},
journal= {arXiv preprint arXiv:2307.08194},
year = {2023}
}