具有局域电子向列序的系统中扫描隧道显微镜的噪声预测

我们提出，在局域条纹取向受淬火无序强烈影响的系统中，热噪声应可通过扫描隧道显微镜轻易探测到。条纹是一种单向的、纳米尺度的电子电荷调制，在二维和准二维系统中受淬火无序的强烈影响。虽然条纹取向倾向于锁定到主要晶格方向，但掺杂剂无序会局域地破坏旋转对称性。在原本具有$C_4$旋转对称性的宿主晶体中，存在淬火无序时的条纹取向映射到随机场伊辛模型。虽然此类系统的低温态通常是二维或强层状系统中的条纹玻璃，但随着温度升高，条纹取向涨落变得更加普遍。我们提出，这些热激发的涨落应可在扫描隧道谱中作为局域$I(V)$曲线高压部分的“电报噪声”被轻易探测到。我们预测了此类噪声的空间、时间和热演化，包括最可能观测到此类噪声的条件。此外，我们提出了一种适用于任何局域扫描探针的原位测试，用于评估此类噪声是由关联涨落还是独立开关引起的。