量子电路中的电子热流与热散粒噪声
介观与纳米尺度物理
2020-01-28 v1 强关联电子
量子物理
摘要
将单个量子组件组装成介观电路时，库仑相互作用与电荷颗粒性之间的相互影响破坏了经典电阻抗合成定律。本文通过实验探究其热学后果，并观测到一种额外的电子热输运量子机制。所研究的、广泛可调的测试电路由一个微米尺度金属节点连接一个电子通道和一个电阻构成。利用焦耳耗散加热该节点，我们通过互补的噪声测量分别确定了其温度以及由通道两端温差引起的热散粒噪声（‘delta- 噪声’）。由此直接验证了热散粒噪声的理论预言，并揭示了电子热流。后者表现出通道中涉及电子分配与库仑相互作用的贡献。将热流预言扩展以包含热散粒噪声后，我们发现与实验定量相符。
引用
@article{arxiv.2001.09824,
title = {Electronic heat flow and thermal shot noise in quantum circuits},
author = {E. Sivre and H. Duprez and A. Anthore and A. Aassime and F. D. Parmentier and A. Cavanna and A. Ouerghi and U. Gennser and F. Pierre},
journal= {arXiv preprint arXiv:2001.09824},
year = {2020}
}
备注
Minor differences with published article: additional reference [29], more explicit identification 'thermal shot noise' - 'delta-T noise', includes the supplementary figures