扫描电子显微镜中二维材料的电子能量损失光谱
仪器与探测器
2025-12-23 v1 材料科学
摘要
本工作展示了在 1-30 keV 电子显微镜中进行二维材料的电子能量损失光谱，观察到的电子-物质耦合强度是 125 keV 显微镜的 100 倍。我们观察到，关于束能与散射的普适曲线对于从bulk graphite 过渡到石墨硬度保持，尽管存在比例因子。我们计算得出，大多数二维材料和光学纳米结构的最佳耦合落在此范围内，得出结论，该尚未探索的能量范围将显著受益于此类系统的光谱学。
引用
@article{arxiv.2410.09291,
title = {Electron Energy Loss Spectroscopy of 2D Materials in a Scanning Electron Microscope},
author = {John W. Simonaitis and Joseph A. Alongi and Benjamin Slayton and William P. Putnam and Karl K. Berggren and Phillip D. Keathley},
journal= {arXiv preprint arXiv:2410.09291},
year = {2025}
}