Sr$_2$IrO$_4$ 中的电化学氧插层
材料科学
2018-03-14 v3
摘要
通过电化学方法将氧插层到 SrIrO 烧结样品、单晶和薄膜中。我们估计扩散长度为几微米，插层氧的浓度 0.01。因此，该浓度远小于铜氧化物和镍氧化物母体化合物（其 0.1），这可能是较大空间位阻效应的结果。氧掺杂状态对电阻率的影响很小，也表明向导电带的电荷转移较差。研究表明，当在水的存在下用离子液体对薄膜施加栅压时，氧的电化学插层也可能对掺杂有所贡献。
引用
@article{arxiv.1703.05978,
title = {Electrochemical Oxygen Intercalation into Sr$_2$IrO$_4$},
author = {L. Fruchter and V. Brouet and D. Colson and J. -B. Moussy and A. Forget and Z. Z. Li},
journal= {arXiv preprint arXiv:1703.05978},
year = {2018}
}