具有PEG-PLL涂层的DNA折纸结构的电学表征及其稳健性提升
软凝聚态物质
2022-06-14 v2
摘要
自1962年首次提出以来，DNA的电导率一直是一个有争议的话题。实验结果的差异常可用环境或实验条件的不同来解释。我们报道了两种具有不同修饰的棒状 DNA 折纸结构的介电泳捕获与电学表征。这些结构为：具有硫醇末端或 polyA 单链突出端的12螺旋束，以及具有硫醇末端且带或不带 PEG-PLL 涂层的30螺旋束。观测到的阻抗谱显示，带 PEG-PLL 涂层的30螺旋束结构的欧姆电阻范围在 500 k 至 3.4 M 之间。无涂层的 DNA 折纸结构始终不导电。视结构不同，在捕获 DNA 折纸纳米结构时金纳米电极频繁发生破坏。这表明由被捕获的导电纳米结构引起了高电流。
引用
@article{arxiv.2112.00406,
title = {Electrical Characterization of DNA Origami Structures with PEG-PLL coating for improved robustness},
author = {Florian Heimbach and Johann Bohlen and Hans Rabus and Woon Yong Baek and Philip Tinnefeld},
journal= {arXiv preprint arXiv:2112.00406},
year = {2022}
}
备注
12 pages, 6 figures, one table; updated after revier comments. Submitted to Chem Phys Chem