l-DNA导电原子力显微镜探测及其结构关系
软凝聚态物质
2007-05-23 v1 材料科学
生物大分子
摘要
我们研究了DNA样本电导随DNA分子数量的变化。我们发现，绝缘间隙（低电压下无电流）随DNA捆束和大型绳索的数量增加而增加，从约1-2 V增加到针对少量DNA分子的约4-7 V。根据电流随距离变化的数据，计算出独立于样本中DNA数量的唯一隧穿距离约为3 nm（极化子-隧穿模型）。单根DNA的高度电阻行为与其在表面上展开的形状相关联（厚度约为0.5-1.5 nm，相对于其 nominal 值约为2 nm）
引用
@article{arxiv.cond-mat/0310242,
title = {Charge transport in l-DNA probed by conducting-AFM, and relationship with its structure},
author = {Thomas Heim and Dominique Deresemes and Dominique Vuillaume},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0310242},
year = {2007}
}