弹电导率作为破缺镜像对称性的探测手段

我们提出可通过弹输运测量探测关联二维材料中的破缺镜像对称性。利用线性响应理论，我们计算剪切电导率 $\Gamma_{xx,xy}$，定义为由于剪切应变 $\epsilon_{xy}$ 引起的纵向电导率 $\sigma_{xx}$ 的线性变化。该量仅当面内镜像对称性破缺时才可能非零，我们讨论铜酸盐赝能隙区中的候选态（例如各种环路电流或电荷序）可能展现有限剪切电导率。我们还提供了探测此种响应的实际实验方案。