极化中子反射术测定应变和缓冲层对 Sr$_2$CrReO$_6$ 薄膜界面磁化的影响
材料科学
2014-09-22 v2
摘要
我们通过结合 X 射线反射术、极化中子反射术和 SQUID 磁强计研究，确定了一系列高度有序的 SrCrReO (SCRO) 亚铁磁外延薄膜的深度分辨磁化结构。直接沉积在 (LaAlO)(SrAlTaO) 或 SrTiO 衬底上的 SCRO 薄膜，尽管具有不同程度的应变，但在与衬底的界面附近显示出宽度相似的磁化减弱区域。当 SCRO 薄膜沉积在 SrCrNbO (SCNO) 双钙钛矿缓冲层上时，磁化减弱的界面区域宽度减小，这与 Cr/Re 有序度的改善一致。然而，三个样品中界面区域平均磁化的相对减弱程度相当。有趣的是，我们发现磁化抑制区域比 SCRO 和 SCNO 界面处的 Cr/Re 反位无序区域更宽。
引用
@article{arxiv.1406.7351,
title = {Effects of Strain and Buffer Layer on Interfacial Magnetization in Sr$_2$CrReO$_6$ Films Determined by Polarized Neutron Reflectometry},
author = {Yaohua Liu and J. M. Lucy and A. Glavic and H. Ambaye and V. Lauter and F. Y. Yang and S. G. E. te Velthuis},
journal= {arXiv preprint arXiv:1406.7351},
year = {2014}
}
备注
6 pages, 5 figures, Phys. Rev. B in press