压力对LaOFeP电子结构的影响
超导电性
2013-02-06 v3
摘要
我们利用第一性原理计算研究了LaOFeP在施加压力下的电子结构。费米能级处的电子态密度随压力增加而持续降低。费米面的电子分支对压力相当稳健，而空穴分支则发生显著变化。两个空穴面收缩成小的椭球状面并最终消失，此时施加的压力约为74.7 GPa。这种压力响应可以通过费米能级附近的能带结构来理解。对比研究表明，空穴面的消失主要是由于FeP层沿晶胞c轴的压缩所致。
引用
@article{arxiv.1003.0592,
title = {Effects of Pressure on the Electronic Structures of LaOFeP},
author = {Yong Yang and Xiao Hu},
journal= {arXiv preprint arXiv:1003.0592},
year = {2013}
}
备注
26 pages, 9 figures