等离子体辐照对CdI2薄膜的影响
材料科学
2009-11-10 v1
摘要
系统性地研究了等离子体辐照对4H掺杂（002）取向CdI2化学计量薄膜的影响。实验发现，在一定适度辐照距离下，薄膜的晶向会改变为(110)。观察到晶粒尺寸和残余应力随辐照距离（或离子能量）减小而线性减小，这与结构和形貌观察的结果一致。发现直接光学带隙Eg随压缩应力以15μeV/atm的速率线性增加。当前的压缩应力数据与此前报告的拉伸应力数据相结合，显示出Eg随应力变化的一致趋势。碘-碘在晶格中的距离可能是导致Eg随应力变化的原因。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0408092,
title = {Effect of Plasma Irradiation on $Cd I_2$ films},
author = {R. S. Rawat and P. Arun and A. G. Vedeshwar and P. Lee and S. Lee},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0408092},
year = {2009}
}
备注
13 pages and 10 fig