自组装CdTe量子点中电荷泄漏动力学
介观与纳米尺度物理
2015-03-13 v1
摘要
我们研究了嵌入在场效应结构中的CdTe量子点集合体中存储电荷的泄漏动力学。通过适当时间序列的偏置脉冲,对光激发电子进行存储和读出。我们监测了电子损失的动力学,发现泄漏速率强烈依赖于时间,我们将其归因于与存储电荷相关的光生电场。一个速率方程模型定量地再现了结果。
引用
@article{arxiv.1003.6040,
title = {Dynamics of Charge Leakage From Self-assembled CdTe Quantum Dots},
author = {Łukasz Kłopotowski and Mateusz Goryca and Tomasz Kazimierczuk and Piotr Kossacki and Piotr Wojnar and Grzegorz Karczewski and Tomasz Wojtowicz},
journal= {arXiv preprint arXiv:1003.6040},
year = {2015}
}
备注
4 pages, submitted to Applied Physics Letters