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薄膜粗化中的动态标度与温度效应

统计力学 2015-04-17 v1

摘要

本文数值研究了使用 Clarke-Vvedensky 模型生长的介观厚度薄膜(多达 10410^{4} 原子层)的动态标度,涵盖了扩散与沉积比率 RR 和侧向邻居脱离概率 ϵ\epsilon 的广泛取值范围,但台阶边缘无能垒。全局粗糙度随薄膜厚度 tt 的标度关系为 Wtβ/[R3/2(ϵ+a)]W \sim t^{\beta}/\left[R^{3/2}\left(\epsilon + a\right)\right],其中 β0.2\beta \approx 0.2 是与 Villain-Lai-Das Sarma (VLDS) 标度一致的生长指数,a=0.025a=0.025。这种对 RRϵ\epsilon 的一般依赖性源自重正化研究,表明前者影响显著,而当 ϵ0.1\epsilon\leq 0.1 时后者影响较小。对于 R104R\geq {10}^4,总是产生非常平滑的表面。局部粗糙度在极低温度下(R102R\leq {10}^2)表现出明显的反常标度,这是对渐近正常标度的大幅标度修正的结果。标度变量 R3/2(ϵ+a)R^{3/2}\left( \epsilon + a\right) 也代表了关联长度标度中的温度效应,并出现在局部粗糙度的动态标度关系中,给出的动态指数 z3.3z\approx 3.3 也与 VLDS 类一致。

关键词

引用

@article{arxiv.1504.04289,
  title  = {Dynamic scaling and temperature effects in thin film roughening},
  author = {T. A. de Assis and F. D. A. Aarão Reis},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1504.04289},
  year   = {2015}
}