用于成像二维异质晶体反平行畴和堆叠角的双偏振 SHG 干涉测量

光学二次谐波生成 (SHG) 能够实现用于晶体学分析和各种材料畴成像的取向偏振测量。然而，忽略相位信息的传统强度偏振测量无法分辨反平行畴，也无法描述二维异质结构——这是一类新型的由范德华力结合的复合晶体。在本工作中，我们报告了双偏振光谱相位干涉测量 (DP-SPI)，并建立了一个包含 DP-SPI 可观测量的广义 SHG 叠加模型。单层过渡金属二硫族化物 (TMD) 的反平行畴被成功区分成像，验证了干涉偏振测量。通过 TMD 异质双层膜的 DP 干涉图，可以确定每一层的取向，从而实现层分辨探测。通过采用叠加模型，我们还展示了用于圆偏振 SHG 的三阶 TMD 异质结构的光子设计和制造。这些方法提供了全面的 SHG 测量和理论描述，可扩展至由两个以上组成层构成的异质结构，且不限于 TMD 或二维材料。