二维过渡金属硫族化物双层超晶格中扭转角的光学与电子衍射成像对比
材料科学
2021-04-14 v1
摘要
原子级薄的二维（2D）材料可通过范德华键垂直堆叠，从而实现层间耦合。在过渡金属硫族化物（TMD）双层这一特定情形下，两层单层之间的相对方向（称为扭转角）改变了晶体对称性并产生了具有引人注目性质的超晶格。在此，我们展示了一种全光学方法，通过偏振分辨二次谐波生成（P-SHG）显微镜以 0.23 度的分辨率逐像素绘制扭转角分布图，并将其与四维扫描透射电子显微镜（4D-STEM）进行比较。研究发现，使用 P-SHG 技术对 WS2 双层的扭转角成像与电子衍射所得结果高度一致。光学方法的主要优势在于表征在器件所制备的同一衬底上进行，且比 4D-STEM 快三个数量级。我们预期光学 P-SHG 成像可成为基于 TMD 超晶格器件质量检验的黄金标准。
引用
@article{arxiv.2104.05783,
title = {Optical versus electron diffraction imaging of Twist-angle in 2D transition metal dichalcogenide bilayer superlattices},
author = {S. Psilodimitrakopoulos and A. Orekhov and L. Mouchliadis and D. Jannis and G. M. Maragkakis and G. Kourmoulakis and N. Gauquelin and G. Kioseoglou and J. Verbeeck and E. Stratakis},
journal= {arXiv preprint arXiv:2104.05783},
year = {2021}
}