耗散环境中的双占据子寿命
介观与纳米尺度物理
2019-09-25 v2
摘要
我们研究两电子 Hubbard 模型中具有双占据格点的态（称为双占据子）的耗散衰变。对于环境，我们考虑电荷和电流噪声，分别建模为耦合到在位能和隧穿耦合的玻色子热浴。结果表明耗散衰变在性质上依赖于环境类型：对于电荷噪声，寿命随电子-电子相互作用增长；相反，对于电流噪声，双占据子随相互作用增大变得日益不稳定。基于 Bloch-Redfield 方法的数值研究由衰变率的解析估计补充。对于典型量子点参数，我们预测双占据子寿命可达 50 ns。
引用
@article{arxiv.1704.00216,
title = {Doublon lifetimes in dissipative environments},
author = {Miguel Bello and Gloria Platero and Sigmund Kohler},
journal= {arXiv preprint arXiv:1704.00216},
year = {2019}
}