中子与原子核 $\beta$ 衰变内辐射修正的色散评估

我们提出一种针对中子与原子核 $\beta$ 衰变中所谓内辐射修正的新颖色散处理。我们表明它需要了解由轴矢量带电流与电磁流的同位旋标量部分干涉所产生的宇称破坏结构函数 $F_3^{(0)}$。借助同位旋对称性，我们将该结构函数与中微子及反中微子的带电流非弹性散射相联系。应用这一新的数据驱动分析，我们得到了普适辐射修正的新且更精确的估计 $\Delta_{R}^{V,\,new}=0.02467(22)$，它取代了 Marciano 与 Sirlin 此前的估计 $\Delta_R^V=0.02361(38)$。$\Delta_R^V$ 中心值的显著偏移反映了 $V_{ud}$ 的相应偏移，以及 CKM 矩阵第一行幺正性约束上的显著张力，该约束被用作带电流 sector 中 New Physics 贡献最严格的约束之一。我们还指出色散关系为在同一框架内处理强子与原子核修正提供了统一工具。我们探索了色散关系用于处理吸收在 ${\cal F}t$ 值中的核结构修正的潜力，而 ${\cal F}t$ 值是与 $\Delta_R^V$ 并列、从超允许核衰变提取 $V_{ud}$ 的关键要素。