仪器展宽的分离
材料科学
2008-12-02 v2
摘要
提出一种旨在分离仪器轮廓展宽与相关 X 射线粉末衍射（XRPD）轮廓形状的新方法。该技术包括三步：采用小波变换进行去噪、采用形态学函数进行背景抑制、采用Lucy-Richardson 有阻尼解卷积算法进行去模糊。用于测试性能的实用 XRPD 强度轮廓来自陶瓷样品。结果表明该方法稳健且能够有效分离测量中固有物理线轮廓所受到的仪器展宽影响。这些特征使整个程序成为 XRPD 数据预处理的有趣且用户友好的工具。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0502582,
title = {Disentangling instrumental broadening},
author = {A. Cervellino and C. Giannini and A. Guagliardi and M. Ladisa},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0502582},
year = {2008}
}
备注
9 pages, 1 table, 1 figure; typos corrected