用于反演小型理想导电裂纹的直接采样法
数值分析
2018-09-18 v1
摘要
本文研究直接采样法，用于根据对应于入射场的远场数据确定一组小型线性理想导电裂纹的位置。为证明直接采样法的可行性，本研究证明了直接采样法的指示函数可由零阶贝塞尔函数与裂纹长度表示。数值模拟结果表明成像性能高度依赖于裂纹长度。为解释成像性能高度依赖于裂纹旋转方向这一事实，通过建立使用零阶与一阶贝塞尔函数的表示，对直接采样法作了进一步分析。基于导出的指示函数表示，我们通过对多个方向及多个频率的入射场加以应用，设计了改进的直接采样法。给出了相应的指示函数分析与仿真结果以证明其有效性与改进。
引用
@article{arxiv.1803.04208,
title = {Direct sampling method for retrieving small perfectly conducting cracks},
author = {Won-Kwang Park},
journal= {arXiv preprint arXiv:1803.04208},
year = {2018}
}