具有轴向定位探测能力的直接光学纳米显微术
生物物理
2015-09-30 v1 光学
摘要
倏逝光激发广泛应用于超分辨荧光显微镜中，以限制光照范围并降低背景噪声。在此，我们提出了一种在发射背景下利用倏逝光的方法。当荧光团位于具有较高折射率的介质附近时，其近场分量会转化为以超过临界角传播的光。这种所谓的超临界角荧光 (SAF) 可以使用高数值孔径 (high-NA) 物镜捕获，并用于以纳米级精度确定荧光团的轴向位置。我们介绍了一种新的三维纳米显微技术，它将直接随机光学重构显微镜 (dSTORM) 成像与 SAF 发射的专用探测相结合。我们证明，这种具有轴向定位探测能力的直接光学纳米显微术 (DONALD) 方法可实现典型的各向同性 3D 定位精度达 20 nm。
引用
@article{arxiv.1410.1563,
title = {Direct optical nanoscopy with axially localized detection},
author = {N. Bourg and C. Mayet and G. Dupuis and T. Barroca and P. Bon and S. Lécart and E. Fort and S. Lévêque-Fort},
journal= {arXiv preprint arXiv:1410.1563},
year = {2015}
}