直接观测硅上二氧化硅表面的图案化自组装单分子层和双分子层
材料科学
2014-10-28 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
有机分子的自组装单分子层 (SAMs) 广泛应用于表面化学和生物学，并作为超精细光刻胶。由于其厚度仅为几纳米，使用传统方法分析图案化单分子层表面需要利用复杂设备进行彻底的逐点扫描。在本文报道的工作中，使用明场光学显微镜简单直接地观测了图案化单分子层。单分子层改变了硅上二氧化硅薄膜的光谱反射率图案，并在基底的裸露区域和单分子层覆盖区域之间引入对比度。该方法还可以区分单层和双层涂层区域。观测结果得到了计算的支持，并通过原子力显微镜、扫描拉曼光谱和扫描反射光谱的对照实验进行了验证。结果适用于光电设备、选择性晶圆键合协议和片上实验室测试系统。我们在此表明，导致 SAMs 双分子层形成的化学反应对应于肉眼可见的光学对比度，使得这种检测能够提供一种简单而有效的方法来区分单分子层和吸附的分析物，可能在化学和/或生物传感中具有应用价值。
引用
@article{arxiv.1410.7248,
title = {Direct observation of patterned self-assembled monolayers and bilayers on silica-on-silicon surfaces},
author = {Hadas Alon and Idan Bakish and Josh Nehrer and Assaf Y. Anderson and Chaim N. Sukenik and Avi Zadok and Doron Naveh},
journal= {arXiv preprint arXiv:1410.7248},
year = {2014}
}