利用磁力显微镜直接测量磁穿透深度
超导电性
2015-06-05 v1
摘要
我们提出了一种利用磁力显微镜测量超导体中磁穿透深度 绝对值的实验方法。通过将感兴趣材料的迈斯纳响应曲线与参考样品的测量曲线进行直接比较，无需引入任何针尖建模过程，即可简单且稳健地获得 。使用表征良好的 Nb 薄膜作为参考，我们通过对比实验确定了 Ba(FeCo)As 单晶和 MgB 薄膜中 的绝对值。我们的装置支持同时装载多个样品，并可 straightforwardly 测量超导薄膜或单晶样品中 的绝对值。
引用
@article{arxiv.1206.4525,
title = {Direct measurement of the magnetic penetration depth by magnetic force microscopy},
author = {Jeehoon Kim and L. Civale and E. Nazaretski and N. Haberkorn and F. Ronning and A. S. Sefat and T. Tajima and B. H. Moeckly and J. D. Thompson and R. Movshovich},
journal= {arXiv preprint arXiv:1206.4525},
year = {2015}
}