利用时间干涉测量法确定电子能带结构
光学
2020-04-22 v1
摘要
我们提出一种全光学方法，用于直接重构半导体的能带结构。我们的方案基于由少周期激光脉冲产生高次谐波(HHG)所实现的时间域杨氏干涉仪。作为一种时-能域干涉装置，时间干涉仪将能带结构编码为能量域中的干涉条纹。我们建立了能带结构与发射谐波频率之间的关系。这使我们能够通过对HHG光谱的单次测量来反演能带结构。我们的方案为在环境条件下研究物质以及追踪能带结构的超快演化铺平了道路。
引用
@article{arxiv.1908.07283,
title = {Determination of Electron Band Structure using Temporal Interferometry},
author = {Liang Li and Pengfei Lan and Lixin He and Wei Cao and Qingbin Zhang and Peixiang Lu},
journal= {arXiv preprint arXiv:1908.07283},
year = {2020}
}