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通过表面负折射探测外尔半金属中的费米弧

介观与纳米尺度物理 2020-03-18 v2

摘要

外尔半金属的主要特征之一是其表面存在费米弧表面态,这在无多体相互作用的纯二维系统中无法实现。然而,由于半金属的无隙体态,观察到来自费米弧表面态的清晰信号具有挑战性。在此,我们提出通过发生在具有适当取向费米弧的两个相邻开放表面之间的完美负折射来探测此类新颖表面态。具体而言,该现象在非局域输运测量中明显显现,其中负折射在实空间电导中产生回波峰。这为费米弧表面态提供了独特特征。我们讨论了该峰在反演对称和时间反演对称外尔半金属中的出现,其中后者由于多次负折射散射事件而表现出电导振荡。

关键词

引用

@article{arxiv.1911.04941,
  title  = {Detection of Fermi Arcs in Weyl Semimetals through Surface Negative Refraction},
  author = {Guangze Chen and Oded Zilberberg and Wei Chen},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1911.04941},
  year   = {2020}
}

备注

9 pages, 7 figures, version 2