探测星系团X射线表面亮度中的边缘
宇宙学与河外天体物理
2016-06-15 v1 星系天体物理
高能天体物理现象
摘要
星系团团内介质的许多物理过程的影响都印刻在X射线表面亮度图像中。因此,选择最优方法从此类图像中提取信息并增强其可解释性十分重要。我们详细描述了一种梯度滤波边缘检测方法,该方法此前已应用于Centaurus星系团的影像。高斯梯度滤波器在特定空间尺度上测量表面亮度分布的梯度。我们将该滤波器在不同尺度上应用于两个具有AGN反馈的星系团(Perseus cluster和M87)以及一个并合系统A3667的Chandra X-ray observatory图像。通过利用径向滤波器组合不同尺度上的滤波图像,可生成星系团中边缘的壮观图像。我们描述了如何评估滤波图像中特征的重要性。我们发现,与其他分析技术(如非锐化掩模)相比,梯度滤波技术在探测多种特征方面具有显著优势。以这种方式在硬能带中对星系团图像进行滤波,可以探测激波。
引用
@article{arxiv.1605.02911,
title = {Detecting edges in the X-ray surface brightness of galaxy clusters},
author = {J. S. Sanders and A. C. Fabian and H. R. Russell and S. A. Walker and K. M. Blundell},
journal= {arXiv preprint arXiv:1605.02911},
year = {2016}
}
备注
14 pages, 16 figures, accepted by MNRAS