用于输运测量与技术器件表征的多功能样品探针设计
材料科学
2018-05-04 v1 仪器与探测器
摘要
我们描述了一种用于输运测量的多功能样品探针,该探针配备双轴测角仪,可提供计算机控制的面外 360° 旋转和手动面内 360° 旋转。该多功能样品探针已成功安装至宿主杜瓦和电磁铁系统中。所开发的探针能够在控制磁场、电场、角度、温度和电流/电压参数方面具有高度灵活性,从而在广泛范围内执行输运测量和器件表征。多功能样品探针的设计允许轻松连接其他外部设备,并易于安装至其他杜瓦和磁体系统中。已开发基于 NI Labview 可视化编程语言的软件界面来控制系统。该装置已在垂直磁化的 Co/Pt/CoO 超薄膜的磁滞回线测量中进行了测试,采用反常霍尔效应(AHE)方法。我们还对样品进行了随温度变化的交换偏置测量。与标准振动样品磁强计系统相比,所开发的探针在垂直磁化超薄 Co/Pt/CoO 薄膜的情况下展现出更好的分辨率。
引用
@article{arxiv.1707.08533,
title = {Design of a multifunctional sample probe for transport measurements and technological device characterizations},
author = {Mustafa Öztürk and Numan Akdoğan},
journal= {arXiv preprint arXiv:1707.08533},
year = {2018}
}
备注
4 pages, 6 figures