具有横向扫描能力的点接触光谱装置的设计与构建

本文介绍了用于针尖-砧座构型点接触光谱测量的低温装置的设计与实现。得益于两个压电纳米定位器的使用，针尖可以沿垂直（$z$）和水平（$x$）方向移动，因此该装置适合\textit{原位}探测样品的不同区域。此外，它还可以在单晶的不同面上形成双点接触，以实现例如用于相位敏感测量的干涉仪构型。为了实现后一目的，样品架还可以容纳亥姆霍兹线圈，用于向结施加小的横向磁场。可以轻松添加半刚性同轴电缆，以研究微波辐照下约瑟夫森结的行为。该装置可从探针上拆卸，从而可与不同的低温恒温器配合使用。通过在Quantum Design PPMS系统中对Nb薄膜进行随温度和磁场变化的大面积点接触Andreev反射测量，测试了这种新探针的性能。