耗尽层诱导的铁电薄膜尺寸效应：金兹堡 - 朗道模型研究
材料科学
2013-04-19 v1
摘要
本文利用金兹堡 - 朗道 (Ginzburg-Landau) 模型论证了耗尽层如何导致薄膜中铁电性质的厚度依赖性。研究表明，即使在未施加外部电压的情况下，薄膜 - 电极界面处的自由电荷层也会在薄膜体内部产生内建电场。在高施主掺杂浓度和小厚度条件下，该内建电场足以强到导致畴结构的形成。这会引起剩余极化的下降，直接证明了自由电荷在铁电薄膜中的重要作用。
引用
@article{arxiv.1304.5057,
title = {Depletion layer-induced size effects in ferroelectric thin films: A Ginzburg-Landau model study},
author = {Nathaniel Ng and Rajeev Ahluwalia and David J. Srolovitz},
journal= {arXiv preprint arXiv:1304.5057},
year = {2013}
}
备注
16 pages, 7 figures