应变 Mn4Si7 电子结构与热电性质的密度泛函理论研究
材料科学
2016-09-21 v1
摘要
利用密度泛函理论 (DFT) 并求解玻尔兹曼输运方程 (BTE)，研究了应变对高锰硅化物 (HMSs) Mn4Si7 电子结构和热电性质的影响。我们发现拉伸应变倾向于减小带隙，而压缩应变对带隙影响不大。发现塞贝克系数随温度升高而增大，这与实验非常一致。电导率和功率因子表现出高度的各向异性，其中面内方向占主导地位。电导率沿面内和面外方向的不同行为被归因于价带顶 (VBM) 处能带色散的变化。
引用
@article{arxiv.1605.03684,
title = {Density Functional Theory study on the electronic structure and thermoelectric properties of strained Mn4Si7},
author = {Do Duc Cuong and JinSik Park and S. H. Rhim and Soon Cheol Hong},
journal= {arXiv preprint arXiv:1605.03684},
year = {2016}
}