LixMoS2插层化合物(0≤x≤1)的密度泛函研究
材料科学
2013-05-30 v1
摘要
在密度泛函理论框架下，研究了锂插层二硫化钼的2H和1T同素异形体(LixMoS2)的稳定性随Li含量(x)和插层位点的变化。发现对于两种同素异形体，Li间隙原子在范德瓦尔斯间隙中的八面体配位是最优的。引发2H→1T相变所需的临界锂含量估计为x≈0.4。对于较小的Li含量，六方2H晶体结构不变，而1T-LixMoS2化合物呈现单斜晶格。除单斜Li1.0MoS2结构外，所有LixMoS2的同素异形体均表现出类金属特性。单斜Li1.0MoS2是一种带隙为1.1 eV的半导体。最后，在唯象模型框架下讨论了Li插层对多层MoS2纳米管稳定性的影响。
引用
@article{arxiv.1205.5220,
title = {Density-functional study of LixMoS2 intercalates (0<=x<=1)},
author = {Andrey Enyashin and Gotthard Seifert},
journal= {arXiv preprint arXiv:1205.5220},
year = {2013}
}
备注
submitted to Comput.Mater.Sci