由手征化学势触发的轻介子衰变

A. A. Andrianov; V. A. Andrianov; D. Espriu; A. E. Putilova; A. V. Iakubovich

由手征化学势触发的轻介子衰变

高能物理 - 唯象学 2017-07-20 v1 高能物理 - 实验核理论

作者: A. A. Andrianov , V. A. Andrianov , D. Espriu , A. E. Putilova , A. V. Iakubovich

摘要

借助与 QCD 相关的介子有效拉格朗日量，分析了在具有手征不平衡环境中的轻介子（ $\pi,\ \sigma,\ a_0$ ）性质。在手征电荷密度的影响下， $\pi$ 介子与 $a_0$ 介子的混合导致标量介子产生新的空间宇称破坏衰变。 $\pi$ 介子电磁形状因子获得了一个不寻常的宇称奇贡献。 $\pi$ 介子的有效质量依赖于其速度，并可能在飞行中消失。讨论了基于上述现象在重离子碰撞中测定手征化学势的可能性。

关键词

轻介子手征化学势宇称破坏介子有效拉格朗日量重离子碰撞 $\pi$ 介子电磁形状因子

引用

@article{arxiv.1707.06150,
  title  = {Decays of light mesons triggered by chiral chemical potential},
  author = {A. A. Andrianov and V. A. Andrianov and D. Espriu and A. E. Putilova and A. V. Iakubovich},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1707.06150},
  year   = {2017}
}

备注

6 pages, Talk given on the conference "Excited QCD" (Sintra, Portugal,7 - 13 May 2017)

由手征化学势触发的轻介子衰变

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