第二类超导体微波损耗中的临界态效应
超导电性
2007-05-23 v2
摘要
我们讨论了临界态下超导体中的微波能量损耗。在Coffey和Clem模型的框架内，通过考虑样品内部涡旋磁场的分布，确定了表面电阻的场致变化。结果表明，为了解释实验数据，通常不能忽略临界态效应。在低温下块体铌中获得的结果得到了定量验证。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0603646,
title = {Critical-state effects on microwave losses in type-II superconductors},
author = {M. Bonura and E. Di Gennaro and A. Agliolo Gallitto and M. Li Vigni},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0603646},
year = {2007}
}
备注
4 pages, 4 embedded figures, to be published on Eur. Phys. J. B