晶体管随机模型中的计数统计与微观可逆性
统计力学
2020-12-02 v1
摘要
在三种晶体管随机模型中建立了多元涨落关系，晶体管是具有三个端口因而存在两个耦合电流的电子器件。在第一种模型中，晶体管没有内部状态变量，端口间的粒子交换被描述为具有恒定速率的马尔可夫跳跃过程。在第二种模型中，速率线性依赖于一个内部随机变量，代表电荷载流子对晶体管的占据。第三种模型的速率非线性依赖于内部占据数。对于第一和第二个模型，还建立了有限时间多元涨落关系，从而深入揭示了在长时间极限下向多元涨落关系渐近形式的收敛。对于所有三种模型，由于微观可逆性，输运性质在平衡附近的线性区满足昂萨格倒易关系，以及在远离平衡的非线性区成立的其推广形式。
引用
@article{arxiv.2004.13622,
title = {Counting statistics and microreversibility in stochastic models of transistors},
author = {Jiayin Gu and Pierre Gaspard},
journal= {arXiv preprint arXiv:2004.13622},
year = {2020}
}