宇宙微波背景去透镜再审视：残余偏差与一种简易修正

去透镜过程是移除宇宙微波背景中由透镜效应引起的 $B$-模偏振的有效工具，以便对原初 $B$-模进行深度搜寻。然而，如果目标 $B$-模信号在多极矩 $l$ 空间中与透镜 $B$-模（$\sim 300<l<2000$）显著重叠，文献中现有的去透镜算法将会失效。在本文中，我们确定失效的原因是输入 $B$-模图与偏转场估计量（$EB$）之间的相关性。该偏差的幅度通过数值模拟进行量化，并与解析推导的函数形式进行比较。我们还提出了一种能规避此偏差的修正去透镜程序。虽然新发现的偏差不影响对张量扰动产生的度尺度 $B$-模的搜寻，但修正后的去透镜算法使得对高 $l$ $B$-模（例如由斑块再电离、宇宙弦或偏振角旋转产生的 $B$-模）进行深度搜寻成为可能。最后，我们估计了未来的偏振实验在去透镜后探测张量模和宇宙弦产生的 $B$-模的能力，并对不同的巡天策略进行了评述。