为研究暴胀而去透镜化宇宙微波背景的前景

在大尺度上探测到多余的宇宙微波背景（CMB）B 模偏振，使得不仅测量这些涨落的振幅，而且测量其尺度依赖性成为可能，后者可参数化为张量倾角 $n_T$。引力透镜诱导的次级 B 模偏振各向异性将阻碍对这种尺度依赖性的测量。幸运的是，如果有足够好的 intervening 引力势估计值和良好的 CMB E 模偏振图，这些污染的 B 模可以被估计并移除。我们预测了在假设透镜势可以从 CMB 数据内部估计或使用宇宙红外背景（CIB）图作为示踪剂的情况下，这些引力透镜 B 模可以被移除的程度。我们发现，在当前一代 CMB 实验的噪声水平下，CIB 图在去透镜化方面与 CMB 图同样有效，而当偏振噪声低于 $\Delta_P$=1 $\mu$K-arcmin 时，CMB 图本身最终将成为去透镜化的最佳选择。在此灵敏度水平下，CMB 去透镜化能够将 $n_T$ 测量精度提高到 0.02 或更好，这对应于 $r=0.2$ 的单场慢滚暴胀模型一致性关系所预测的张量倾角。然而，基于 CIB 的去透镜化不足以约束简单暴胀模型中的 $n_T$。