关于 DDR4 DRAM 故障的系统性研究的纠正
硬件体系结构
2024-08-29 v1
摘要
本文是对 Beigi 等人于 HPCA 2023 发表论文的纠正稿 https://doi.org/10.1109/HPCA56546.2023.10071066。该 HPCA 论文对 DDR4 DRAM 中大规模观察到的故障进行了详细的现场数据分析，包括来自两家不同内存供应商的故障数据。该分析涵盖了故障模式的划分。进一步研究数据后，我们发现根据记录的行-列-列地址解码错误时存在一个错误。具体而言，我们发现某些在单个列中发生的错误被误解释为发生在两个非相邻列中。由于这种误解，某些单比特故障被误分类为部分行故障（即双比特故障），同样，某些单列故障被误分类为双列故障。这些误分类错误的结果是，单比特故障的比例高于论文中报告的比例，同时某些类型多比特故障的比例相应下降。这些误分类也稍微改变了原论文中每个 DDR4 器件的 FIT 值。本纠正稿提供了相关表格和图表的更新版本，并指出了相应页码和原论文中要替换的参考文献。
引用
@article{arxiv.2408.15302,
title = {Corrigendum to: A Systematic Study of DDR4 DRAM Faults in the Field},
author = {Majed Valad Beigi and Yi Cao and Sudhanva Gurumurthi and Charles Recchia and Andrew Walton and Vilas Sridharan},
journal= {arXiv preprint arXiv:2408.15302},
year = {2024}
}